ABB REF 54, Operator'S Manual

28

1MRS 750500-MUM

)HHGHU7HUPLQDODQG0DFKLQH7HUPLQDO

Operator’s Manual

5(BB

7HVWPRGHV

There are various test modes for each of the following four categories:

• Function

• Control

• MIMIC

• I/O  test

•

IRF test

)XQFWLRQWHVW

The outputs of a function block can be activated locally via the HMI or externally 
via serial communication. The outputs are activated by using control parameters of 
the function.

For further details of functions, refer to the CD-ROM Technical Descriptions of 
Functions (1MRS750889-MCD).

&RQWUROWHVW

The system provides a general interlocking bypass mode (parameter “Interl bypass” 
in 

MAIN MENU/Control/General

) that overrides all interlocking signals. 

Activation of the interlocking bypass mode activates the interlocking enable signals 
of all control objects. Thus, all control actions are possible, and the enable signals of  
controllable objects are not checked while the objects are commanded. As long as 
the mode is active, the Interlocking LED indicator on the HMI is red and blinking. 
Additionally, the assisting window of the MIMIC view will indicate the special 
condition.

0,0,&WHVW

The test mode for MIMIC is entered by setting the “Panel test” parameter to “Start” 
in 

MAIN MENU/Tests/Mimic

 [17]. The test can be interrupted by pressing any 

button. Otherwise the test is the same as the one run at power up (refer to section 
“Display test at power up” on page 9).

,2WHVW

The test mode is for testing digital inputs and outputs and their effect on the function 
of the terminal. The user has to enter the test mode (

MAIN MENU/Tests/

General/Test mode

) before testing or else the changes will not be valid. When 

the test mode is active, status changes of the objects in the MIMIC view will not take 
place. The test mode is cancelled by setting the “Test mode” parameter to “Not 
active” or by power up.

If the user forgets to cancel the test mode, it remains on and the Ready 
LED indicator remains blinking.

The virtual SNVT inputs and outputs can be tested with or without the test 
mode. Note, however, that the test values remain valid until real changes 
in the SNVT inputs and outputs are caused by the application.

!

!