background image

 

 

 
 

 

 
 
NIKON METROLOGY NV 

Geldenaaksebaan 329 
B-3001 Leuven 
Belgium 
tel. +32 16 74 01 01 
fax +32 16 74 01 03 
info@nikonmetrology.com 
 

 
NIKON CORPORATION 

Parale Mitsui Bldg., 8 Higashida-cho, Kawasaki-ku 
Kawasaki, Kanagawa 210-0005, Japan 
tel. +81 44 223 2175 
fax +81 44 223 2182 
www.nikon-instruments.jp/eng/ 

 

 

 

NIKON METROLOGY, INC. 
tel. +1 810 2204360 
sales_us@nikonmetrology.com 

 

NIKON METROLOGY UK LTD 
tel. +44 1332 811349 
sales_uk@nikonmetrology.com 

 

NIKON METROLOGY EUROPE NV 
tel. +32 16 74 01 01 
sales_belgium@nikonmetrology.com 
 

 

 

NIKON METROLOGY GMBH 
tel. +49 6023 91733-0 
sales_germany@nikonmetrology.com 

 

NIKON METROLOGY SARL 
tel. +33 4 74 76 64 76 
sales_france@nikonmetrology.com 

 

NIKON INSTRUMENTS (SHANGHAI) 
CO., LTD. 
tel. +86 21 5836 0050 
 

 

 

NIKON SINGAPORE PTE LTD 
tel. +65 6559 3618 
 

 

NIKON MALAYSIA SDN. BHD. 
tel. +60 3 78763887 
 

 

NIKON INSTRUMENTS (KOREA) 
CO., LTD. 
tel. +82 2 2186 8410 

 
 

REQUIREMENTS 

CMM

 The LC15Dx is suitable for Nikon and 3

rd

 party bridge, 

horizontal arm and gantry style CMMs. 

Application Software

 Several proprietary software 

packages are available for the LC15Dx including FOCUS 
and CAMIO from Nikon Metrology.

 

PC System

 Refer to the specific application software 

datasheet for the PC system specification. 

CMM Controller

 See Retrofits section below for CMM 

controller and probe head compatibility.   

Laser Scanner OPCD

 The Optical Probe Controller for 

Digital laser scanners (OPCD) manages all laser scanner 
communications and functions, including streaming data to 
the application software via a TCP/IP network. 

Probe Head

 The LC15Dx supports the Renishaw PH10M, 

PH10MQ and PHS probe heads, and Hexagon CW43 probe 
head, see Retrofits section below for CMM probe head and 
controller compatibility. 

Probe Multiwire

 A multiwire probe cable, routed through 

the CMM from the probe head, is required when using the 
LC15Dx

UPGRADES 

Tactile Probe

 In some cases a single sensor technology 

is insufficient for measuring all the features. The LC15Dx can 
be combined with an optional touch trigger probe and/or 
scanning probe to create a versatile multi-sensor CMM.  

Change Rack

 For fully automatic scanner and tactile 

probe changes the LC15Dx can be combined with an 
optional Renishaw ACR2 or ACR3/MRS change rack.

 

 

 

  

 

Mounting Adaptor

 For applications where the orientation 

of the laser needs rotating in relation to the Probe Head, 
optional mounting adaptors are available for the Renishaw 
PH10M, PH10MQ and PHS probe heads. 

IS1 Interface

 When the LC15Dx is used in combination 

with an optional Renishaw TP7M, SP25 or SP600 probe, an 
optional Renishaw IS1-2 Interface Selector is required

.

 

RETROFITS 

Retrofitting your current CMM with an LC15Dx and FOCUS software is a cost effective solution. The retrofit integrates with the 
existing CMM controller hardware and compatible probe system to provide a versatile multi-sensor CMM 

CMM Controller Brand 

Model 

Probe Head 

Aberlink / Deva 

DEVA 004

 

PH10M, PH10MQ

 

Coord3 

P3M

 

PH10M, PH10MQ

 

Dukin 

DKS

 

PH10M, PH10MQ

 

Hexagon - DEA 

B3C-LC, B3C-S, B3P, B3P-S, B5P, B6C-S, 

Tutor-P, Master-P,FB2 

PH10M, PH10MQ, CW43 

Hexagon - Brown & Sharpe 

Sharpe 32, Sharpe 32C, Sharpe 32Z 

PH10M, PH10MQ 

Hexagon - Sheffield 

SMP300, SMP400 

PH10M, PH10MQ 

LK 

AIM, MCC200, MCC250, MCC300

 

PH10M, PH10MQ

 

Mitutoyo 

UC200E, UC200H, UC200S UC220E, UC220H, UC220S, 

UC240, UC300 

PH10M, PH10MQ 

Mora 

ANC39, ANC40 

PH10M, PH10MQ 

Renishaw 

UCC1, UCC2 

PH10M, PH10MQ 

Wenzel 

WPC2010, WPC2020, WPC2030 

PH10M, PH10MQ 

WPC2040 

PH10M, PH10MQ, PHS 

Werth 

Werth 

PH10M, PH10MQ 

Zeiss 

C99 

PH10M,PH10MQ, RDS 

 

CMM CONFIGURATION 

IS1-2

 

INTERFACE

 

PC SYSTEM

 

TACTILE

 

PROBE

 

LC15Dx

 

SCANNER

 

APPLICATION

 

SOFTWARE

 

PROBE

 

HEAD

 

LASER SCANNER

 

OPCD

 

CMM

 

CONTROLLER

 

MOUNTING

 

ADAPTOR

 

CHANGE

 

RACK

 

PROBE

 

MULTIWIRE

 

COMPULSORY 

ITEM

 

OPTIONAL 

ITEM

 

KEY

 

LASER

 

SYSTEM

 

D

S

-L

C

1

5

D

x

-0

3

1

2

 -

 C

o

p

y

ri

g

h

N

ik

o

n

 M

e

tr

o

lo

g

N

V

 2

0

1

2

 –

 A

ll 

ri

g

h

ts

 r

e

se

rve

d

 –

 A

ll 

sp

e

ci

fi

c

a

ti

o

n

a

re

 su

b

je

ct

 t

o

 ch

a

n

g

e

 w

it

h

o

u

n

o

ti

ce

Reviews: