1-6
DSC-W200_L2
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JAPANESE
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JAPANESE
1-2-3. 自己診断コード表
C
C
E
E
E
E
E
E
E
E
E
ブロック
機能
1
3
3
2
6
1
6
1
6
2
6
2
6
2
6
2
6
2
9
1
9
2
詳細
コード
0
1
0
1
0
0
1
0
0
2
1
0
1
1
1
2
2
0
0
1
0
0
症状／状態
内蔵メモリにフォーマットエラーが
あった。
フォーマットしていない
メモリー
スティック デュオ
を入れた。
メモリースティック デュオ
が
壊れている。
メモリースティック デュオ
の
タイプエラーを検出した。
メモリースティック デュオ
が
読み／書きできない。
ハードウェアトラブルを検出した。
フォーカスが合いにくい。
（フォーカスの初期化ができない）
ズーム動作の異常。
（ズームレンズの初期化ができな
い）
手振れ補正用ICの異常。
手振れ補正用ICの異常。
（レンズ初期化異常）
レンズオーバーヒート（PITCH）
レンズオーバーヒート（YAW）
サーミスタの異常。
フラッシュの充電異常。
規定外の充電池が使用された。
自己診断コード
対応／方法
内蔵メモリをフォーマットする。
メモリースティック デュオ
をフォーマットする。
新しい
メモリースティック デュオ
に交換する。
規格内の
メモリースティック デュオ
を挿入する。
電源の入れ直し，または
メモリースティック デュオ
の挿し／外しを数回試す。
電源を入れ直す。
操作スイッチの電源を入れ直す。
復帰しない場合はレンズブロックのフォーカスリセットセ
ンサ（SY-178基板CN402
qk
ピン）を点検する。異常なけ
ればフォーカスモータ駆動IC（SY-178基板IC401）を点検
する。
操作スイッチの電源を入れ直す。
ズームボタンを操作したときにズーム動作をすればレンズ
ブロックのズームリセットセンサ（SY-178基板CN402
w;
ピン）を点検する。異常なければズームモータ駆動IC
（SY-178基板IC401）を点検する。
手振れ補正用IC（SY-178基板IC503）を点検または交換す
る。
手振れ補正用IC（SY-178基板IC503）を点検または交換す
る。
光学手振れ補正ブロックのホール素子（PITCH）（SY-178
基板CN402
wl
，
e;
ピン）を点検する。異常なければ
PITCH角速度センサ（SY-178基板SE502）周辺の回路を点
検する。
光学手振れ補正ブロックのホール素子（YAW）（SY-178
基板CN402
ej
，
ek
ピン）を点検する。異常なければYAW
角速度センサ（SY-178基板SE501）周辺の回路を点検す
る。
光学手振れ補正ブロックのサーミスタ（SY-178基板CN402
ea
ピン）を点検する。
フラッシュユニットを点検または交換する。（Note）
規定の充電池を使用する。
対
応
者
Note：交換後は，必ず「1-3. フラッシュ異常修理後の処置」を行って下さい。
