Texas Instruments LMR36506RREVM, User Manual

Load

(+)

(-)

DMM

(-)

(+)

DMM

(-)

(+)

Input 

Supply

(+)

(-)

www.ti.com

Setup

3

SNVU671 – February 2020

Submit Documentation Feedback

Copyright © 2020, Texas Instruments Incorporated

LMR36506RREVM User’s Guide

1

Setup

This section describes the test points and connectors on the EVM and how to properly connect, set up,
and use the LMR36506RREVM.

1.1

Test Points

The test points on the top of the board can be used for connecting to the input and output of the EVM.
See

Figure 2

for typical test setup. The functions of the test points connections are:

•

VIN_EMI —

Input supply to EVM including an EMI filter. Connect to a suitable input supply. Connect at

this point for conducted EMI test.

•

GND —

Ground connection for the input supply as well as test points for ground connection

•

VIN —

Input supply to the IC. Can be connected to DMM to measure input voltage after EMI filter

•

VOUT —

Output voltage test point of EVM. Can be connected to a desired load

•

EN —

This test point is connected to the EN pin. By default, there is a pullup resistor R2 (RENT) to

VIN to enable the IC.

•

PGOOD —

This test point is connected to the PGOOD pin from the IC. It is an open-drain output of the

PGOOD pin. Can be tied to external supply through a pullup resistor or left open

•

SYNC —

In a

MODE/SYNC

trim part, this test point is connected to the SYNC pin of the IC. Can be

connected to an external clock to synchronize the IC. Make sure R4 (RMODE) is installed and R5 (RT)
is not installed. In a

RT

trim part, this test point is connected to the RT pin of the IC when the R4

(RMODE) is installed.

•

VCC —

This test point is connected to the VCC pin.

•

SW —

This test point is connected to the switch node.

Figure 2. EVM Board Connections