MCF52110 ColdFire® Integrated Microcontroller Reference Manual, Rev. 1
Freescale Semiconductor
xiii
Preliminary
27.2 Signal Descriptions . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27-2
27.3 Real-Time Trace Support . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27-3
27.4.1 Shared Debug Resources . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27-7
27.4.2 Configuration/Status Register (CSR) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27-7
27.4.3 BDM Address Attribute Register (BAAR) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27-10
27.4.4 Address Attribute Trigger Register (AATR) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27-10
27.4.5 Trigger Definition Register (TDR) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27-12
27.4.6 Program Counter Breakpoint/Mask Registers (PBR0–3, PBMR) . . . . . . . . . . . . . . . 27-15
27.4.7 Address Breakpoint Registers (ABLR, ABHR) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27-17
27.4.8 Data Breakpoint and Mask Registers (DBR, DBMR) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27-18
27.5.1 CPU Halt . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27-19
27.5.2 BDM Serial Interface . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27-20
27.5.3 BDM Command Set . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27-22
27.6.1 Theory of Operation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27-39
27.6.2 Concurrent BDM and Processor Operation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27-41
27.7.1 User Instruction Set . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27-42
27.7.2 Supervisor Instruction Set . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 27-47
IEEE 1149.1 Test Access Port (JTAG)
28.1.1 Block Diagram . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28-1
28.1.2 Features . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28-2
28.1.3 Modes of Operation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28-2
28.2.1 JTAG Enable (JTAG_EN) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28-2
28.2.2 Test Clock Input (TCLK) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28-3
28.2.3 Test Mode Select/Breakpoint (TMS/BKPT) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28-3
28.2.4 Test Data Input/Development Serial Input (TDI/DSI) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28-3
28.2.5 Test Reset/Development Serial Clock (TRST/DSCLK) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28-4
28.2.6 Test Data Output/Development Serial Output (TDO/DSO) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 28-4